Zobrazuji výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
Polthier, Konrad.
'
Přeskočit na obsah
Toggle navigation
Home
Feedback
Váš účet
Zpět
Váš účet
Oblíbené
Výpůjčky
Rezervace a objednávky
Upomínky
Profil
Uložená vyhledávání
Odhlásit
Přihlásit
Jazyk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Search:
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Autor
Polthier, Konrad.
Zobrazuji výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
Polthier, Konrad.
'
, doba hledání: 0,04 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Signatury
Autor
Název
Vybrat vše | Vybrané:
Poslat emailem
Exportovat
Vytisknout
Uložit
Vybrat výsledek číslo 1
1
Combinatorial Image Analysis 11th International Workshop, IWCIA 2006, Berlin, Germany, June 19-21, 2006, Proceedings /
Vydáno 2006
Další autoři:
“
...
Polthier
,
Konrad
....
”
Signatura:
Načítá se...
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
Elektronický zdroj
E-kniha
Přidat do oblíbených
Uloženo v:
Vybrat výsledek číslo 2
2
The Impact of Applications on Mathematics Proceedings of the Forum of Mathematics for Industry 2013 /
Vydáno 2014
Další autoři:
“
...
Polthier
,
Konrad
....
”
Signatura:
Načítá se...
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
Elektronický zdroj
E-kniha
Přidat do oblíbených
Uloženo v:
Vybrat vše | Vybrané:
Poslat emailem
Exportovat
Vytisknout
Uložit
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Související témata
Algorithm Analysis and Problem Complexity
Algorithms
Applications of Mathematics
Applied mathematics
Computer Graphics
Computer graphics
Computer science—Mathematics
Computer simulation
Discrete Mathematics in Computer Science
Engineering mathematics
Image Processing and Computer Vision
Mathematical and Computational Engineering
Numeric Computing
Numerical analysis
Optical data processing
Pattern Recognition
Pattern recognition
Simulation and Modeling
×
Načítá se...
