Obálka

Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope

Within the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy (EELS) has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level.  In two previous editions, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Elec...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Egerton, R.F. (Autor, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut)
Korporativní autor: SpringerLink (Online service)
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:English
Vydáno: New York, NY : Springer US : Imprint: Springer, 2011.
Vydání:3rd ed. 2011.
Témata:
Materials science.
Spectroscopy.
Microscopy.
Solid state physics.
Nanotechnology.
Characterization and Evaluation of Materials.
Spectroscopy/Spectrometry.
Spectroscopy and Microscopy.
Solid State Physics.
On-line přístup:https://doi.org/10.1007/978-1-4419-9583-4
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Internet

https://doi.org/10.1007/978-1-4419-9583-4

Podobné jednotky