Helium Ion Microscopy Principles and Applications /
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions – such as the Helium Ion Microscope (HIM) – are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century. Topics covered includ...
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Korporacja: | |
| Format: | Elektroniczne E-book |
| Język: | English |
| Wydane: |
New York, NY :
Springer New York : Imprint: Springer,
2013.
|
| Wydanie: | 1st ed. 2013. |
| Seria: | SpringerBriefs in Materials,
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://doi.org/10.1007/978-1-4614-8660-2 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|