Helium Ion Microscopy Principles and Applications /
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions – such as the Helium Ion Microscope (HIM) – are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century. Topics covered includ...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York, NY :
Springer New York : Imprint: Springer,
2013.
|
| Редактирование: | 1st ed. 2013. |
| Серии: | SpringerBriefs in Materials,
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://doi.org/10.1007/978-1-4614-8660-2 |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|