Εξώφυλλο

Defects at Oxide Surfaces

This book presents the basics and characterization of defects at oxide surfaces. It provides a state-of-the-art review of the field, containing information to the various types of surface defects, describes analytical methods to study defects, their chemical activity and the catalytic reactivity of...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Jupille, Jacques. (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Thornton, Geoff. (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2015.
Έκδοση:1st ed. 2015.
Σειρά:Springer Series in Surface Sciences, 58
Θέματα:
Surfaces (Physics).
Interfaces (Physical sciences).
Thin films.
Optical materials.
Electronic materials.
Materials—Surfaces.
Physical chemistry.
Surface and Interface Science, Thin Films.
Optical and Electronic Materials.
Surfaces and Interfaces, Thin Films.
Physical Chemistry.
Διαθέσιμο Online:https://doi.org/10.1007/978-3-319-14367-5
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

Διαδίκτυο

https://doi.org/10.1007/978-3-319-14367-5

Παρόμοια τεκμήρια