Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales Synchrotron X-ray Microdiffraction /
This Brief highlights the search for strain gradients and geometrically necessary dislocations as a possible source of strength for two cases of deformation of materials at small scales: nanoindented single crystal copper and uniaxially compressed single crystal submicron gold pillars. When crystall...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Singapore :
Springer Singapore : Imprint: Springer,
2015.
|
| Έκδοση: | 1st ed. 2015. |
| Σειρά: | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology,
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://doi.org/10.1007/978-981-287-335-4 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Πίνακας περιεχομένων:
- From the Contents: Introduction
- Synchrotron White-beam X-ray Microdiffraction at the Advanced Light Source, Berkeley Lab
- Electromigration-induced Plasticity in Cu Interconnects: The Length Scale Dependence.