Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales Synchrotron X-ray Microdiffraction /
This Brief highlights the search for strain gradients and geometrically necessary dislocations as a possible source of strength for two cases of deformation of materials at small scales: nanoindented single crystal copper and uniaxially compressed single crystal submicron gold pillars. When crystall...
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחבר תאגידי: | |
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Singapore :
Springer Singapore : Imprint: Springer,
2015.
|
| מהדורה: | 1st ed. 2015. |
| סדרה: | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology,
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://doi.org/10.1007/978-981-287-335-4 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
תוכן הענינים:
- From the Contents: Introduction
- Synchrotron White-beam X-ray Microdiffraction at the Advanced Light Source, Berkeley Lab
- Electromigration-induced Plasticity in Cu Interconnects: The Length Scale Dependence.