1
Baskı/Yayın Bilgisi 2010
İçindekiler: ...Keynote Addresses -- Automatic Testing and Fixing for Eiffel -- Testing and Proving, Hand-in-Hand...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
2
Baskı/Yayın Bilgisi 2010
İçindekiler: ... Rule Learning with Negated Features -- Fast Retrieval of Time Series Using a Multi-resolution Filter...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
3
Baskı/Yayın Bilgisi 2007
İçindekiler: ...Theoretical Advances in AI -- An Evolving Oblique Decision Tree Ensemble Architecture...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap