1
Julkaistu 2005
Sisällysluettelo: ...-Integration Technology Using Dielectric Adhesive Wafer Bonding -- Advanced Materials Characterization...
Hae kokoteksti
Elektroninen E-kirja
2
Julkaistu 2010
Sisällysluettelo: ... in CT Data -- Electron Microscopy Image Segmentation with Graph Cuts Utilizing Estimated Symmetric Three...
Hae kokoteksti
Elektroninen E-kirja
3
Julkaistu 2014
Sisällysluettelo: ... Reflectance Measurement (FBRM) -- Cell Assessment by Atline Microscopy -- Seed Train Optimization for Cell...
Hae kokoteksti
Elektroninen E-kirja