1
Baskı/Yayın Bilgisi 2006
İçindekiler: ... -- Computing and using the deviance with classification trees -- Estimation procedures for the false discovery...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
2
Baskı/Yayın Bilgisi 2014
İçindekiler: ... Modeling via Probabilistic Nodes Combination -- Computer-Aided System for Automatic Classification...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
3
Baskı/Yayın Bilgisi 2007
İçindekiler: ... Function Based on Higher Order Statistics (RF-HOS) for Two-Sample Microarray Experiments -- Searching...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap