1
Wydane 2005
Spis treści: ...-Integration Technology Using Dielectric Adhesive Wafer Bonding -- Advanced Materials Characterization...
Dokumenty pełnotekstowe
Elektroniczne E-book
2
Wydane 2010
Spis treści: ... in CT Data -- Electron Microscopy Image Segmentation with Graph Cuts Utilizing Estimated Symmetric Three...
Dokumenty pełnotekstowe
Elektroniczne E-book
3
Wydane 2014
Spis treści: ... Reflectance Measurement (FBRM) -- Cell Assessment by Atline Microscopy -- Seed Train Optimization for Cell...
Dokumenty pełnotekstowe
Elektroniczne E-book