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1
Veröffentlicht 2005
Inhaltsangabe:
“... Advances and Prospects -- TEM Characterization of Strained Silicon -- Material Aspects of Non-Volatile...”Volltext
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2
Veröffentlicht 2010
Inhaltsangabe:
“... in CT Data -- Electron Microscopy Image Segmentation with Graph Cuts Utilizing Estimated Symmetric Three...”Volltext
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Veröffentlicht 2012
Inhaltsangabe:
“... on the Iterative ADP Approach -- A Memetic Approach for the Knowledge Extraction -- Development of a Novel...”Volltext
Elektronisch
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Veröffentlicht 2014
Inhaltsangabe:
“... Infections: Study Protocols -- Capturing Air-Water Interface Biofilms for Microscopy and Molecular Analysis...”Volltext
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