1
יצא לאור 2005
תוכן הענינים: ... Scanning Probe Microscopy -- Nanoscale Probing of Physical and Chemical Functionality with Near-Field...
קבל טקסט מלא
אלקטרוני ספר אלקטרוני
2
יצא לאור 2007
תוכן הענינים: ... Attach Quality Testing by Structure Function Evaluation -- Mechanical Behavior of Flip Chip Packages...
קבל טקסט מלא
אלקטרוני ספר אלקטרוני
3
יצא לאור 2015
תוכן הענינים: ... semiconductors and their interfaces: Experimental electronic structure of organic-device related systems...
קבל טקסט מלא
אלקטרוני ספר אלקטרוני
4
יצא לאור 2005
תוכן הענינים: ...: Applications to Direct Tunneling and Defects at Dielectric Interfaces -- Atomic Structure, Interfaces...
קבל טקסט מלא
אלקטרוני ספר אלקטרוני
5
יצא לאור 2014
תוכן הענינים: ...The Scanning Tunneling Microscopy of Adsorbed Molecules on Semiconductors: Some Theoretical Answers...
קבל טקסט מלא
אלקטרוני ספר אלקטרוני