Şunu mu demek istediniz:
developing microscopy » developing microsoft, sectioning microscopy, developing microcomputer
processing developing » forecasting developing, housing developing
using processing » during processing, curing processing, aging processing
https » http
1
Yazar: Vancso, G. Julius., Vancso, G. Julius., Schönherr, Holger.
Baskı/Yayın Bilgisi 2010
İçindekiler: ... and Interface Properties and (Dynamic) Processes....
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
2
Baskı/Yayın Bilgisi 2005
İçindekiler: ... Optical Microscopy -- Nanoscale Electronic Measurements of Semiconductors Using Kelvin Probe Force...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
3
Baskı/Yayın Bilgisi 2015
İçindekiler: ... memories -- Advanced technology for Analytical Electron Microscopy by using Aberration corrected...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
4
Baskı/Yayın Bilgisi 2012
İçindekiler: ... Variants.- Brain Computer Interfacing Using Humour and Memory Recall -- On the Reconstruction of Genetic...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
5
Baskı/Yayın Bilgisi 2008
İçindekiler: ... Conroy, Harvard University) -- Chemical Force Microscopy 1: Nanoscale probing of fundamental chemical...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
6
Baskı/Yayın Bilgisi 2005
İçindekiler: ... to the Limits — Recent Advances -- Surface Engineering Using Self-assembled Monolayers: Model Substrates...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
7
Baskı/Yayın Bilgisi 2005
İçindekiler: ... Analysis Using Focused Ion Beam Microscopy -- Application of FIB in Combination with Auger Electron...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
8
Baskı/Yayın Bilgisi 2005
İçindekiler: ...Surface and Interface Magnetism Using Radioactive Probes -- The Ferromagnetic Semiconductor HgCr2Se...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
9
Baskı/Yayın Bilgisi 2007
İçindekiler: ... Lead-Free Interconnections -- Metallurgy, Processing and Reliability of Lead-Free Solder Joint...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
10
Baskı/Yayın Bilgisi 2006
İçindekiler: ... Textures for a Large-Scale Environment -- Planar Surface Detection in Image Pairs Using Homographic...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
11
Baskı/Yayın Bilgisi 2008
İçindekiler: ... with Same Grain Orientation and Large Grain Size by the Newly Developed Dendritic Casting Method for High...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
12
Yazar: Wang, Chen., Wang, Chen., Bai, Chunli.
Baskı/Yayın Bilgisi 2006
İçindekiler: ... and Chemical Reactions -- Molecular Scale Analysis Using Scanning Force Microscopy -- Intermolecular...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
13
Baskı/Yayın Bilgisi 2010
İçindekiler: ... -- Efficient Algorithms for Image and High Dimensional Data Processing Using Eikonal Equation on Graphs -- 3D...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
14
Baskı/Yayın Bilgisi 2011
İçindekiler: ... interface at high resolution -- 8. Delamination in timber induced by microwave energy- 9. Delamination...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
15
Baskı/Yayın Bilgisi 2015
İçindekiler: ... Use of Channelrhodopsin in the Development of Neuron-Network High-Throughput Screening Devices (Tsuneo...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
16
Baskı/Yayın Bilgisi 2015
İçindekiler: ... in Contact with Saline Solution: Analysis Using Electrochemical Atomic Force Microscopy -- 25 Years...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
17
Baskı/Yayın Bilgisi 2006
İçindekiler: ... and Bicelle -- Development and Application of Bicelles for Use in Biological NMR and Other Biophysical Studies...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
18
Baskı/Yayın Bilgisi 2013
İçindekiler: ... by Atomic Force Microscopy -- Use of Fourier-Transform Infrared (FTIR) Microscopy Method For Detection...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
19
Baskı/Yayın Bilgisi 2006
İçindekiler: ... Database System Development for Design and Manufacturing of Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
20
Baskı/Yayın Bilgisi 2011
İçindekiler: ... of Microcellular Solids Using Scanning Confocal Microscopy -- Characterization of the Mechanical Properties...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap