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Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional...
Publicado em 2005
Sumário:
“... Scanning Probe Microscopy -- Nanoscale Probing of Physical and Chemical Functionality with Near-Field...”Obter o texto integral
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Publicado em 2015
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“... -- The Phantom Force - The Influence of a Tunnel Current on Force Microscopy -- Non-Contact Friction -- Magnetic...”Obter o texto integral
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Publicado em 2008
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Publicado em 2007
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“... Attach Quality Testing by Structure Function Evaluation -- Mechanical Behavior of Flip Chip Packages...”Obter o texto integral
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Publicado em 2006
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Publicado em 2008
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Publicado em 2008
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Publicado em 2015
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“... semiconductors and their interfaces: Experimental electronic structure of organic-device related systems...”Obter o texto integral
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Publicado em 2005
Sumário:
“...: Applications to Direct Tunneling and Defects at Dielectric Interfaces -- Atomic Structure, Interfaces...”Obter o texto integral
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Publicado em 2011
Sumário:
“... Structures -- Progress in Developing a Standard for Dynamic Strain Analysis -- Polymers in Biaxial States...”Obter o texto integral
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Publicado em 2006
Sumário:
“... Metallic Layers: A Molecular Dynamics Study on Size Effects -- Electron Microscopy Characterization...”Obter o texto integral
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Publicado em 2014
Sumário:
“...The Scanning Tunneling Microscopy of Adsorbed Molecules on Semiconductors: Some Theoretical Answers...”Obter o texto integral
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