1
Yazar: Venkatarathnam, Gadhiraju., Venkatarathnam, Gadhiraju.
Baskı/Yayın Bilgisi 2008
İçindekiler: ...Fundamental principles and processes -- Simulation of cryogenic processes -- Need for refrigerant...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
2
Baskı/Yayın Bilgisi 2012
İçindekiler: ... Network -- Transient-Time Fractional-Space Trigonometry and Application -- Understanding Individual Play...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
3
Baskı/Yayın Bilgisi 2010
İçindekiler: ... -- Transmission Electron Microscopy and Computer-Aided Image Processing for 3D Structural Analysis...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
4
Yazar: Egerton, R.F., Egerton, R.F.
Baskı/Yayın Bilgisi 2011
Konular: ...Spectroscopy and Microscopy. https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market-codes/P...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
5
Yazar: Lacey, Maureen E., Lacey, Maureen E., West, Jonathan S.
Baskı/Yayın Bilgisi 2006
Konular: ...Biological Microscopy. https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market-codes/L26000...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
6
Baskı/Yayın Bilgisi 2006
İçindekiler: ... Pattern for the Development of Web-Based DVE Applications -- Optimal Parameterizations of Bézier Surfaces...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
7
Baskı/Yayın Bilgisi 2015
Konular: ...Image Processing and Computer Vision. https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
8
Baskı/Yayın Bilgisi 2015
Konular: ...Image Processing and Computer Vision. https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
9
Baskı/Yayın Bilgisi 2015
Konular: ...Image Processing and Computer Vision. https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
10
Baskı/Yayın Bilgisi 2010
İçindekiler: ... in CT Data -- Electron Microscopy Image Segmentation with Graph Cuts Utilizing Estimated Symmetric Three...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
11
Baskı/Yayın Bilgisi 2007
İçindekiler: ... -- PHYSICAL PROCESSES ON THE SURFACE OF FIELD EMISSION CATHODES BASED ON CARBON NANOSTRUCTURAL MATERIALS...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
12
Baskı/Yayın Bilgisi 2008
İçindekiler: ...-Ions -- Advanced Food Products and Process Engineering (SAFES) II: Application to Apple Combined Drying...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
13
Baskı/Yayın Bilgisi 2012
İçindekiler: ... Microscopy (AFM): A Tool for Studying Biophysical Surface Properties Underpinning Fungal Interactions...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap