1
Baskı/Yayın Bilgisi 2012
İçindekiler: ... Selection Based on Memory Predictions -- Sampling Normal Distribution Restricted on Multiple Regions...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap
2
Baskı/Yayın Bilgisi 2011
İçindekiler: ... in Shear Behavior of Intermetallic Composites Using V-notched Beam Test Method -- The Influence of Sample...
Tam Metin Erişim
Elektronik Ekitap