Microstructural characterization of materials /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Brandon, David G.
Other Authors: Kaplan, Wayne D.
Format: Book
Language:English
Published: Chichester : J. Wiley, 1999.
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 00863pam a2200253 a 4500
001 vtls000244101
003 UPM
005 20161022010204.0
008 980924s1999 enk 001 0 eng
010 |a 98-46589  
020 |a 0471985023 (pbk) 
039 9 |a 200804281655  |b VLOAD  |y 200110271259  |z load0001 
040 |c UPM 
090 0 0 |a TA417.23 B819 
100 1 |a Brandon, David G. 
245 1 0 |a Microstructural characterization of materials /  |c David G. Brandon and Wayne D. Kaplan. 
260 |a Chichester :  |b J. Wiley,  |c 1999. 
300 |a 409p. :  |b ill. ;  |c 24cm. 
650 0 |a Materials  |x Microscopy. 
650 0 |a Microstructure. 
700 1 |a Kaplan, Wayne D. 
942 |2 lcc  |c 10000 
999 |c 227088  |d 227088 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 TA041723 B819  |7 0  |9 346723  |a 10000  |b 10000  |c 10000  |d 2016-10-22  |l 3  |o TA417.23 B819  |p 1000429885  |r 2023-08-29  |s 2023-07-26  |t 1  |w 2016-10-22  |y 10000