Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations /
This book is motivated by the challenges faced in designing reliable integratedsystems using modern VLSI processes. The reliable operation of Integrated Circuits (ICs) has become increasingly difficult to achieve in the deep sub-micron (DSM) era. With continuously decreasing device feature sizes, co...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York, NY :
Springer US : Imprint: Springer,
2010.
|
| Έκδοση: | 1st ed. 2010. |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!