Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations /
This book is motivated by the challenges faced in designing reliable integratedsystems using modern VLSI processes. The reliable operation of Integrated Circuits (ICs) has become increasingly difficult to achieve in the deep sub-micron (DSM) era. With continuously decreasing device feature sizes, co...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلف مشترك: | |
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
New York, NY :
Springer US : Imprint: Springer,
2010.
|
| الطبعة: | 1st ed. 2010. |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!