Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations /
This book is motivated by the challenges faced in designing reliable integratedsystems using modern VLSI processes. The reliable operation of Integrated Circuits (ICs) has become increasingly difficult to achieve in the deep sub-micron (DSM) era. With continuously decreasing device feature sizes, co...
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Tác giả của công ty: | |
| Định dạng: | Điện tử eBook |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
New York, NY :
Springer US : Imprint: Springer,
2010.
|
| Phiên bản: | 1st ed. 2010. |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Là người đầu tiên ghi lời nhận xét!