Prediction of grain size, thickness and absorbance of nanocrystalline tin oxide thin film by Taguchi robust design

Transparent conductive films of tin oxide were deposited on glass substrates under various deposition conditions. Taguchi analysis was used to model the dependence of the grain size, thickness and absorbance of nanocrystalline tin oxide on the process parameters namely pH value, concentration, time...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Ebrahimiasl, Saeideh, Wan Yunus, Wan Md. Zin, Kassim, Anuar, Zainal, Zulkarnain
Μορφή: Άρθρο
Γλώσσα:English
English
Έκδοση: Elsevier 2010
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://psasir.upm.edu.my/id/eprint/16286/1/Prediction%20of%20grain%20size.pdf
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!