Prediction of grain size, thickness and absorbance of nanocrystalline tin oxide thin film by Taguchi robust design
Transparent conductive films of tin oxide were deposited on glass substrates under various deposition conditions. Taguchi analysis was used to model the dependence of the grain size, thickness and absorbance of nanocrystalline tin oxide on the process parameters namely pH value, concentration, time...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Bài viết |
| Ngôn ngữ: | English English |
| Được phát hành: |
Elsevier
2010
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | http://psasir.upm.edu.my/id/eprint/16286/1/Prediction%20of%20grain%20size.pdf |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Là người đầu tiên ghi lời nhận xét!