Scanning Probe Microscopy Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy /

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniqu...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Voigtländer, Bert. (Autor, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut)
Korporacja: SpringerLink (Online service)
Format: Elektroniczne E-book
Język:English
Wydane: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2015.
Wydanie:1st ed. 2015.
Seria:NanoScience and Technology,
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy