Scanning Probe Microscopy Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy /
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniqu...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | Voigtländer, Bert. (مؤلف, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut) |
|---|---|
| مؤلف مشترك: | SpringerLink (Online service) |
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer,
2015.
|
| الطبعة: | 1st ed. 2015. |
| سلاسل: | NanoScience and Technology,
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
منشور في: (2010) -
Roadmap of Scanning Probe Microscopy
منشور في: (2007) -
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
منشور في: (2011) -
Three-Dimensional Nanoarchitectures Designing Next-Generation Devices /
منشور في: (2011) -
Nanostructures Fabrication and Analysis /
منشور في: (2007)



