Scanning Probe Microscopy Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy /
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniqu...
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Yhteisötekijä: | |
| Aineistotyyppi: | Elektroninen E-kirja |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer,
2015.
|
| Painos: | 1st ed. 2015. |
| Sarja: | NanoScience and Technology,
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0 |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|