Scanning Probe Microscopy Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy /
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniqu...
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחבר תאגידי: | |
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer,
2015.
|
| מהדורה: | 1st ed. 2015. |
| סדרה: | NanoScience and Technology,
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|