Scanning Probe Microscopy Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy /
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniqu...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer,
2015.
|
| Редактирование: | 1st ed. 2015. |
| Серии: | NanoScience and Technology,
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0 |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|